在现代的IC设计中，工程师们广泛地使用数字电路的逻辑综合技术。工程师们使用RTL代码和IP描述设计的功能，进行高级设计，用综合工具对设计进行编辑和优化，以实现满足设计目标的电路。根据多年为客户进行技术训练，技术支持和IC设计的经验，笔者编写了本书。书中主要介绍了IC设计的基本概念，设计流程和设计方法，并就工程师们在设计中常见的问题，提供了解决方法。本书的特点是实用性强。
全书共九章，第一章概述IC设计的趋势和流程；第二章介绍用RTL代码进行电路的高级设计和数字电路的逻辑综合；第三章陈述了IC系统的层次化设计和模块划分；第四章详细地说明如何设置电路的设计目标和约束；第五章介绍综合库和静态时序分析；第六章深入地阐述了电路优化和优化策略；第七章陈述物理综合和简介逻辑综合的拓扑技术；第八章介绍可测性设计；第九章介绍低功耗设计和分析。
本书的主要对象是IC设计工程师，帮助他们解决IC设计和综合过程中遇到的实际问题。也可作为高等院校相关专业的高年级学生和研究生的参考书。

第一章 集成电路设计概念
1.1 摩尔定律
1.2 集成电路系统的组成
1.3 集成电路的设计流程
第二章 数字电路的高级设计和逻辑综合
2.1 RTL硬件描述语言设计
2.2 逻辑综合（Logic Synthesis）
第三章 系统的层次化设计和模块划分
3.1 设计组成及DC-Tcl
3.2 层次（Hierarchy）结构和模块划分（Partition）及修改
第四章 电路的设计目标和约束
4.1 设计的时序约束
4.2 复杂时序约束
4.3 面积约束
第五章 综合库和静态时序分析
5.1 综合库和设计规则
5.2 静态时序分析
第六章 电路优化和优化策略
6.1 电路优化
6.2 优化策略
6.3 网表的生成格式及后处理
第七章 物理综合
7.1 逻辑综合（Logic Synthesis）遇到的问题
7.2 物理综合（Physical Synthesis）的基本流程
7.3 逻辑综合的拓扑技术（Topographical Technology）
第八章 可测试性设计
8.1 生产测试简介
8.2 可测试设计
8.3 测试协议（D algorithm）
8.4 测试的设计规则
8.5 门级网表可测试问题的自动修正
8.6 扫描链的插入
8.7 可测试设计的输出和流程
8.8 自适应性扫描压缩技术
第九章 低功耗设计和分析
9.1 工艺库的功耗模型
9.2 功耗的分析
9.3 低功耗电路的设计和优化
附录